Сервисный контент
|
Тестовый предмет |
Единица котировки |
Тип образца |
|
Поперечная-обработка и метрология |
Час (ч) |
Semiconductor samples such as 3D NAND, DRAM, MEMS; other samples requiring large-size (>50 мкм) обработка |
|
Подготовка проб большого-размера TEM XS (поперечное-сечение) |
Час (ч) |
То же, что и выше |
|
Большой-TEM PV (вид сверху) Подготовка проб |
Час (ч) |
То же, что и выше |
|
Микрообработка (травление или осаждение) |
Час (ч) |
То же, что и выше |
|
Анализ отложений (Delayer) |
Час (ч) |
Анализ задержки выборки в горячих точках |
Объем услуг
См. сведения об услуге, типы образцов
Тестирование предметов
См. сведения об услуге, элементы тестирования
Цикл тестирования
Стандартный цикл тестирования составляет 3 календарных дня. По особым требованиям мы можем предоставить расценки на различное время ответа: 48 часов, 24 часа и 12 часов.
Наши преимущества
Члены нашей команды GRGTEST Metrology Platform имеют в среднем более 5 лет практического опыта работы в электронной микроскопии, что позволяет нам предоставлять точные, быстрые и профессиональные услуги по тестированию.
Наши трубки для микроскопов нового поколения PFIB обеспечивают высочайшую производительность и высочайшее качество обработки поперечного сечения и микрообработки.
В сочетании с окончательной полировкой при 500 В мы можем добиться высочайшего качества подготовки образцов для ПЭМ без содержания галлия.
горячая этикетка : pfib (плазменно-фокусированный ионный луч), Китай поставщик услуг pfib (плазменно-фокусированный ионный пучок)
